Statistical analysis of low frequency noise in Enclosed Gate MOSFETs

dc.contributor.advisorBucher Matthiasen
dc.contributor.advisorBucher Matthiasel
dc.contributor.authorNikolaou Aristeidisen
dc.contributor.authorΝικολαου Αριστειδηςel
dc.contributor.committeememberBalas Costasen
dc.contributor.committeememberΜπαλας Κωσταςel
dc.contributor.committeememberKalaitzakis Kostasen
dc.contributor.committeememberΚαλαϊτζακης Κωσταςel
dc.date.accessioned2024-10-31T16:01:06Z
dc.date.available2024-10-31T16:01:06Z
dc.date.issued2016
dc.date.submitted2016-09-05
dc.format.extent3 megabytesen
dc.identifier10.26233/heallink.tuc.66251
dc.identifier.citationAristeidis Nikolaou, "Statistical analysis of low frequency noise in Enclosed Gate MOSFETs", Diploma Work, School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, Chania, Greece, 2016en
dc.identifier.citationΑριστείδης Νικολάου, "Στατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETs ", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2016el
dc.identifier.urihttps://dspace.library.tuc.gr/handle/123456789/922
dc.language.isoen
dc.publisherΠολυτεχνείο Κρήτηςel
dc.publisherTechnical University of Creteen
dc.relation.replaces42101
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/en
dc.subjectLow frequency noiseen
dc.titleStatistical analysis of low frequency noise in Enclosed Gate MOSFETsen
dc.titleΣτατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETsel
dc.typeΔιπλωματική Εργασίαel
dc.typeDiploma Worken
dcterms.mediatorTechnical University of Crete::School of Electrical and Computer Engineeringen
dcterms.mediatorΠολυτεχνείο Κρήτης::Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστώνel
dspace.entity.typePublication

Αρχεία

Πρωτότυπος φάκελος/πακέτο

Τώρα δείχνει 1 - 1 από 1
Δεν υπάρχει διαθέσιμη μικρογραφία
Ονομα:
Nikolaou_Aristeidis_Dip_2016.pdf
Μέγεθος:
2.86 MB
Μορφότυπο:
Adobe Portable Document Format